en

scanning transmission electron microscope

1

Терминологические словари

Materjalitehnika terminibaas

ID 675127 Последнее изменение 11.08.2025
Веб-страница словаря
Веб-страница словаря
Домен laboratory engineeringmetallography
scanning transmission electron microscope предпочтительный термин
  • elektronmikroskoop, mille korral kujutist läbivad elektronid ei haju vaadeldavalt uuritavalt objektilt; need kogutakse ja analüüsitakse (vt elektronmikroskoop)
  • electron microscope in which electrons transmitted through the sample are either uncattered, elastically scattered or inelatically scattered; they are collected, separated and analyzed (see: electron microscope)
skaneeriv transmissioonelektronmikroskoop предпочтительный термин
Это интересно
  • lühend STEM
scanning transmission electron microscope предпочтительный термин
Это интересно
  • abbreviation STEM
STEM сокращение

Metroloogia terminibaas

ID 590388 Последнее изменение 11.04.2024
Веб-страница словаря
Веб-страница словаря
Домен metrologymeasuring equipment - control equipmentmeasuring instruments
  • mikroskoop, mis võimaldab kujutise saada tänu uuritavat proovi läbivale elektronide voole
  • microscopy technique in which a beam of electrons is transmitted through a specimen to form an image
  • type of transmission electron microscope
läbivkiirguse elektronmikroskoop предпочтительный термин
Примеры
  • Läbivkiirguse elektronmikroskoobis fokuseeritakse elektronkiir väikesele täpile (tüüpiline täpi läbimõõt 0,05 nm kuni 0,2 nm), mis seejärel skaneeritakse üle proovi rastervalgustussüsteemis, mis on konstrueeritud nii, et proov valgustatakse igas punktis optilise teljega paralleelse kiirega, mis muudab läbivkiirguse elektronmikroskoobi sobivaks analüütiliste meetodite jaoks, nagu Z-kontrastne rõngakujuline tumeda välja pildistamine ja spektroskoopiline kaardistamine energia dispersiivse röntgenspektroskoopia või elektronide energiakao spektroskoopia abil.
scanning transmission electron microscope
Примеры
  • In scanning transmission electron microscope the electron beam is focused to a fine spot (with the typical spot size 0,05 nm – 0,2 nm) which is then scanned over the sample in a raster illumination system constructed so that the sample is illuminated at each point with the beam parallel to the optical axis. The rastering of the beam across the sample makes scanning transmission electron microscope suitable for analytical techniques such as Z-contrast annular dark-field imaging, and spectroscopic mapping by energy dispersive X-ray spectroscopy, or electron energy loss spectroscopy.

Формы слова данные отсутствуют

Этимология данные отсутствуют

Производные слова данные отсутствуют

Примеры предложений из текстов интернета

На странице корпусного менеджера SkELL пользователь может познакомиться с контекстами употребления и с распространёнными сочетаниями слова, а также с синонимами и другими близкими по значению словами. Данные выбраны компьютером aвтомaтически и могут содержать ошибки.