et

läbivkiirguse elektronmikroskoop

1

Terminological databases

Metroloogia terminibaas

ID 590388 Last modified 11.04.2024
View dataset
View dataset
Domain metrologymeasuring equipment - control equipmentmeasuring instruments
läbivkiirguse elektronmikroskoop preferred
skaneeriv transmissioonelektronmikroskoop
skaneeriv transmissioonmikroskoop
  • mikroskoop, mis võimaldab kujutise saada tänu uuritavat proovi läbivale elektronide voole
  • microscopy technique in which a beam of electrons is transmitted through a specimen to form an image
  • type of transmission electron microscope
läbivkiirguse elektronmikroskoop preferred
Usage examples
  • Läbivkiirguse elektronmikroskoobis fokuseeritakse elektronkiir väikesele täpile (tüüpiline täpi läbimõõt 0,05 nm kuni 0,2 nm), mis seejärel skaneeritakse üle proovi rastervalgustussüsteemis, mis on konstrueeritud nii, et proov valgustatakse igas punktis optilise teljega paralleelse kiirega, mis muudab läbivkiirguse elektronmikroskoobi sobivaks analüütiliste meetodite jaoks, nagu Z-kontrastne rõngakujuline tumeda välja pildistamine ja spektroskoopiline kaardistamine energia dispersiivse röntgenspektroskoopia või elektronide energiakao spektroskoopia abil.
skaneeriv transmissioonelektronmikroskoop
skaneeriv transmissioonmikroskoop
scanning transmission electron microscope
Usage examples
  • In scanning transmission electron microscope the electron beam is focused to a fine spot (with the typical spot size 0,05 nm – 0,2 nm) which is then scanned over the sample in a raster illumination system constructed so that the sample is illuminated at each point with the beam parallel to the optical axis. The rastering of the beam across the sample makes scanning transmission electron microscope suitable for analytical techniques such as Z-contrast annular dark-field imaging, and spectroscopic mapping by energy dispersive X-ray spectroscopy, or electron energy loss spectroscopy.

Metroloogia terminibaas

ID 574809 Last modified 16.02.2024
View dataset
View dataset
Domain metrologymeasuring instruments
elektronmikroskoop preferred
  • mikroskoop, mis kasutab valgusallikana kiirendatud elektronide kiirt
  • elektronoptiline seade, mis annab väikestest objektidest suurendatud kujutisi elektronide kimbu – elektronsondi abil
  • microscope that uses a beam of accelerated electrons as a source of illumination
elektronmikroskoop preferred
Usage examples
  • Elektronmikroskoobid kasutavad elektronoptikat, mis on analoogne optilise valgusmikroskoobi klaasläätsedega, et juhtida elektronkiirt, fokusseerides kiirt suurendatud kujutiste või elektronide difraktsioonimustrite tekitamiseks.
Good to know
  • Kuna elektroni lainepikkus võib olla kuni 100 000 korda väiksem kui nähtaval valgusel, on elektronmikroskoopide eraldusvõime umbes 0,1 nm.
electron microscope
Usage examples
  • They use electron optics that are analogous to the glass lenses of an optical light microscope to control the electron beam, for instance focusing them to produce magnified images or electron diffraction patterns.
Good to know
  • As the wavelength of an electron can be up to 100 000 times smaller than that of visible light, electron microscopes have a much higher resolution of about 0,1 nm, which compares to about 200 nm for light microscopes.

Word forms not available

Etymology not available

Related words not available

Search the same word

in the EU's IATE term base
Searching web examples...
Searching translated usage examples...