et

skaneeriv transmissioonelektronmikroskoop

1

Erialasõnastikud

Materjalitehnika terminibaas

ID 675127 Viimati muudetud 11.08.2025
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond laboritehnikametallography
skaneeriv transmissioonelektronmikroskoop eelistatud
scanning transmission electron microscope eelistatud
  • elektronmikroskoop, mille korral kujutist läbivad elektronid ei haju vaadeldavalt uuritavalt objektilt; need kogutakse ja analüüsitakse (vt elektronmikroskoop)
  • electron microscope in which electrons transmitted through the sample are either uncattered, elastically scattered or inelatically scattered; they are collected, separated and analyzed (see: electron microscope)
skaneeriv transmissioonelektronmikroskoop eelistatud
Hea teada
  • lühend STEM
scanning transmission electron microscope eelistatud
Hea teada
  • abbreviation STEM
STEM lühend

Metroloogia terminibaas

ID 590388 Viimati muudetud 11.04.2024
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond metroloogiameasuring equipment - control equipmentmõõduvahendid
läbivkiirguse elektronmikroskoop eelistatud
skaneeriv transmissioonelektronmikroskoop
skaneeriv transmissioonmikroskoop
  • mikroskoop, mis võimaldab kujutise saada tänu uuritavat proovi läbivale elektronide voole
  • microscopy technique in which a beam of electrons is transmitted through a specimen to form an image
  • type of transmission electron microscope
läbivkiirguse elektronmikroskoop eelistatud
Näited
  • Läbivkiirguse elektronmikroskoobis fokuseeritakse elektronkiir väikesele täpile (tüüpiline täpi läbimõõt 0,05 nm kuni 0,2 nm), mis seejärel skaneeritakse üle proovi rastervalgustussüsteemis, mis on konstrueeritud nii, et proov valgustatakse igas punktis optilise teljega paralleelse kiirega, mis muudab läbivkiirguse elektronmikroskoobi sobivaks analüütiliste meetodite jaoks, nagu Z-kontrastne rõngakujuline tumeda välja pildistamine ja spektroskoopiline kaardistamine energia dispersiivse röntgenspektroskoopia või elektronide energiakao spektroskoopia abil.
skaneeriv transmissioonelektronmikroskoop
skaneeriv transmissioonmikroskoop
scanning transmission electron microscope
Näited
  • In scanning transmission electron microscope the electron beam is focused to a fine spot (with the typical spot size 0,05 nm – 0,2 nm) which is then scanned over the sample in a raster illumination system constructed so that the sample is illuminated at each point with the beam parallel to the optical axis. The rastering of the beam across the sample makes scanning transmission electron microscope suitable for analytical techniques such as Z-contrast annular dark-field imaging, and spectroscopic mapping by energy dispersive X-ray spectroscopy, or electron energy loss spectroscopy.

Sõnavormid puuduvad

Päritolu andmed puuduvad

Sõna seosed puuduvad

Sama sõna

ELi terminibaasis IATE
Otsin lisanäiteid...
Otsin tõlgitud näiteid...