en

SEM

1 сокращение

Терминологические словари

Arheoloogia terminibaas

ID 473301 Последнее изменение 08.08.2023
Веб-страница словаря
Веб-страница словаря
Домен muud laboriga seotud mõisted
SEM
SEM
  • mikroskoop, mis loob kujutise uuritavat proovi suure energiaga elektronikiire abil skaneerides. Kiirt moodustavad elektronid interakteeruvad pinda moodustavate aatomitega, tekitades signaale, mis sisaldavad teavet pinna kuju, koostise, elektrijuhtivuse ja muude omaduste kohta. Võimaldab kasutada suuri suurendusi ja uurida väga erinevaid materjale
SEM сокращение
SEM сокращение

Materjalitehnika terminibaas

ID 672955 Последнее изменение 07.04.2024
Веб-страница словаря
Веб-страница словаря
Домен metallography
scanning electron microscope предпочтительный термин
SEM
сканирующий электронный микроскоп предпочтительный термин
  • elektronmikroskoop, mille korral kujutis saadakse objekti skaneerimisel elektronkiirte abil
  • an electron microscope in which a beam of electrons sweeps over a specimen measuring intensity of secondary electrons generated at the point of impact of the beam on the specimen, and relaying the signal into a cathode display, which is scanned in synchronism with the scanning of the specimen
skaneeriv elektronmikroskoop
Это интересно
  • lühend SEM
scanning electron microscope предпочтительный термин
Это интересно
  • abbreviation SEM
SEM сокращение
scanning microscope
сканирующий электронный микроскоп предпочтительный термин

Metroloogia terminibaas

ID 1143092 Последнее изменение 29.01.2026
Веб-страница словаря
Веб-страница словаря
Домен metrologymeasuring procedures
nurgalahutusega skanniv elektronmikroskoopia
SEM
angle-resolved scanning electron microscopy
SEM
  • pinnatopograafia mõõtemeetod, mille puhul pinna lokaalsed konarused hinnatakse peegelduse nurkjaotuse või sekundaarse elektronkiirguse intensiivsuse abil ja pinnatopograafia kujutis saadakse nende kohalike pinnakonaruste integreerimise teel
  • surface topography measurement method whereby local gradients of a surface are determined by angular distribution of reflection or secondary electron emission intensity and an areal-topography image is obtained by integration of these local gradients
nurgalahutusega skanniv elektronmikroskoopia
Примеры
  • Nurgalahutusega skanniva elektronmikroskoopia korral kogutakse katoodiluminestsentsi emissioon paraboloidpeeglisse tulevast täiskiirest ja iga saadud pildi punkt vastab ainulaadsele emissiooninurgale.
SEM сокращение
angle-resolved scanning electron microscopy
Примеры
  • In angle-resolved scanning electron microscopy, the cathodoluminescence emission is collected from the full beam incident on a paraboloid mirror, and each point in the resulting image corresponds to a unique emission angle.
SEM сокращение

Формы слова данные отсутствуют

Этимология данные отсутствуют

Производные слова данные отсутствуют

Поиск

в терминологической базе IATE

Примеры предложений из текстов интернета

На странице корпусного менеджера SkELL пользователь может познакомиться с контекстами употребления и с распространёнными сочетаниями слова, а также с синонимами и другими близкими по значению словами. Данные выбраны компьютером aвтомaтически и могут содержать ошибки.
Skell logo