et

skaneeriv elektronmikroskoop

1

Терминологические словари

Arheoloogia terminibaas

ID 473301 Последнее изменение 08.08.2023
Веб-страница словаря
Веб-страница словаря
Домен muud laboriga seotud mõisted
SEM
SEM
  • mikroskoop, mis loob kujutise uuritavat proovi suure energiaga elektronikiire abil skaneerides. Kiirt moodustavad elektronid interakteeruvad pinda moodustavate aatomitega, tekitades signaale, mis sisaldavad teavet pinna kuju, koostise, elektrijuhtivuse ja muude omaduste kohta. Võimaldab kasutada suuri suurendusi ja uurida väga erinevaid materjale
SEM сокращение
SEM сокращение

Materjalitehnika terminibaas

ID 672955 Последнее изменение 07.04.2024
Веб-страница словаря
Веб-страница словаря
Домен metallography
scanning electron microscope предпочтительный термин
SEM
сканирующий электронный микроскоп предпочтительный термин
  • elektronmikroskoop, mille korral kujutis saadakse objekti skaneerimisel elektronkiirte abil
  • an electron microscope in which a beam of electrons sweeps over a specimen measuring intensity of secondary electrons generated at the point of impact of the beam on the specimen, and relaying the signal into a cathode display, which is scanned in synchronism with the scanning of the specimen
skaneeriv elektronmikroskoop
Это интересно
  • lühend SEM
scanning electron microscope предпочтительный термин
Это интересно
  • abbreviation SEM
SEM сокращение
scanning microscope
сканирующий электронный микроскоп предпочтительный термин

Metroloogia terminibaas

ID 590387 Последнее изменение 11.04.2024
Веб-страница словаря
Веб-страница словаря
Домен metrologymeasuring instruments
skaneeriv elektronmikroskoop предпочтительный термин
scanning electron microscope предпочтительный термин
  • mikroskoop, mis loob kujutise uuritavat proovi suure energiaga elektronikiire abil skaneerides
  • type of electron microscope that produces images of a sample by scanning the surface with a focused beam of electrons
skaneeriv elektronmikroskoop предпочтительный термин
Примеры
  • Kõige tavalisemas skaneeriva elektronmikroskoobi režiimis tuvastatakse sekundaarse elektronkiire ergastatud aatomite poolt eralduvad sekundaarsed elektronid sekundaarse elektrondetektori abil.
scanning electron microscope предпочтительный термин
Примеры
  • In the most common scanning electron microscope mode, secondary electrons emitted by atoms excited by the electron beam are detected using a secondary electron detector.

Формы слова данные отсутствуют

Этимология данные отсутствуют

Производные слова данные отсутствуют

Поиск

в терминологической базе IATE
Идёт поиск предложений...
Идёт поиск примеров...