en

SEM

1 lühend

Erialasõnastikud

Arheoloogia terminibaas

ID 473301 Viimati muudetud 08.08.2023
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond muud laboriga seotud mõisted
SEM
SEM
  • mikroskoop, mis loob kujutise uuritavat proovi suure energiaga elektronikiire abil skaneerides. Kiirt moodustavad elektronid interakteeruvad pinda moodustavate aatomitega, tekitades signaale, mis sisaldavad teavet pinna kuju, koostise, elektrijuhtivuse ja muude omaduste kohta. Võimaldab kasutada suuri suurendusi ja uurida väga erinevaid materjale
SEM lühend
SEM lühend

Materjalitehnika terminibaas

ID 672955 Viimati muudetud 07.04.2024
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond metallography
scanning electron microscope eelistatud
SEM
сканирующий электронный микроскоп eelistatud
  • elektronmikroskoop, mille korral kujutis saadakse objekti skaneerimisel elektronkiirte abil
  • an electron microscope in which a beam of electrons sweeps over a specimen measuring intensity of secondary electrons generated at the point of impact of the beam on the specimen, and relaying the signal into a cathode display, which is scanned in synchronism with the scanning of the specimen
skaneeriv elektronmikroskoop
Hea teada
  • lühend SEM
scanning electron microscope eelistatud
Hea teada
  • abbreviation SEM
SEM lühend
scanning microscope
сканирующий электронный микроскоп eelistatud

Metroloogia terminibaas

ID 1143092 Viimati muudetud 29.01.2026
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond metroloogiameasuring procedures
nurgalahutusega skanniv elektronmikroskoopia
SEM
angle-resolved scanning electron microscopy
SEM
  • pinnatopograafia mõõtemeetod, mille puhul pinna lokaalsed konarused hinnatakse peegelduse nurkjaotuse või sekundaarse elektronkiirguse intensiivsuse abil ja pinnatopograafia kujutis saadakse nende kohalike pinnakonaruste integreerimise teel
  • surface topography measurement method whereby local gradients of a surface are determined by angular distribution of reflection or secondary electron emission intensity and an areal-topography image is obtained by integration of these local gradients
nurgalahutusega skanniv elektronmikroskoopia
Näited
  • Nurgalahutusega skanniva elektronmikroskoopia korral kogutakse katoodiluminestsentsi emissioon paraboloidpeeglisse tulevast täiskiirest ja iga saadud pildi punkt vastab ainulaadsele emissiooninurgale.
SEM lühend
angle-resolved scanning electron microscopy
Näited
  • In angle-resolved scanning electron microscopy, the cathodoluminescence emission is collected from the full beam incident on a paraboloid mirror, and each point in the resulting image corresponds to a unique emission angle.
SEM lühend

Sõnavormid puuduvad

Päritolu andmed puuduvad

Sõna seosed puuduvad

Sama sõna

ELi terminibaasis IATE

Lisanäited

Veebilehelt SkELL saad vaadata sõna kasutusnäiteid, naabersõnu ja sarnase tähendusega sõnu. Need on automaatselt valitud ning võivad sisaldada vigu.
Skell logo