en

scanning force microscope

1

Erialasõnastikud

Metroloogia terminibaas

ID 610976 Viimati muudetud 09.05.2025
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond metroloogiamõõduvahendid
teravikmikroskoop eelistatud
atomic force microscope eelistatud
AFM
scanning force microscope
SFM
  • mõõtevahend, mida kasutatakse pinna aatomistruktuuri kaardistamiseks, mõõtes jõudu, mis toimib üle pinna liigutatava kompimisosise väga peenele otsale
  • device used to map the atomic structure of a surface by measuring the force acting on the very fine tip of a wire moved over the surface
teravikmikroskoop eelistatud
Näited
  • Teravikmikroskoopi kasutatakse kompimisosise teraviku ja proovi vaheliste jõudude mõõtmiseks nende vastastikuse eraldamise funktsioonina, mida saab rakendada jõuspektroskoopia tegemiseks ja proovi kombatava pinna mehaaniliste omaduste mõõtmiseks.
atomic force microscope eelistatud
Näited
  • The atomic force microscope can be used to measure the forces between the probe and the sample as a function of their mutual separation. This can be applied to perform force spectroscopy, to measure the mechanical properties of the sample.
AFM lühend
scanning force microscope
SFM lühend

Metroloogia terminibaas

ID 1143103 Viimati muudetud 29.01.2026
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond metroloogiameasuring procedures
aatomjõumikroskoopia eelistatud
AFM
skanniv jõumikroskoopia
SFM
atomic force microscopy
AFM
scanning force microscope
SFM
  • pinnatopograafia mõõtemeetod, mille puhul pinna kõrgust tajutakse varb-/nõelotsaku ja pinna vahelise mehaanilise tõmbe- või tõukejõu põhjal
  • surface topography measurement method whereby the surface height is sensed from the mechanical force of attraction or repulsion between a probe tip and a surface
aatomjõumikroskoopia eelistatud
Näited
  • Aatomjõumikroskoopia ja skanniv jõumikroskoopia on kaks meetodit, mida võib liigitada ka skanniva sondi mikroskoopia meetoditeks.
AFM lühend
skanniv jõumikroskoopia
SFM lühend
atomic force microscopy
Näited
  • Atomic force microscopy (AFM) and scanning force microscopy (SFM) are two methods that can also be classified as methods of scanned probe microscopy.
AFM lühend
scanning force microscope
SFM lühend

Sõnavormid puuduvad

Päritolu andmed puuduvad

Sõna seosed puuduvad

Sama sõna

ELi terminibaasis IATE

Lisanäited

Veebilehelt SkELL saad vaadata sõna kasutusnäiteid, naabersõnu ja sarnase tähendusega sõnu. Need on automaatselt valitud ning võivad sisaldada vigu.
Skell logo