en

SFM

1 сокращение

Терминологические словари

Metroloogia terminibaas

ID 610976 Последнее изменение 09.05.2025
Веб-страница словаря
Веб-страница словаря
Домен metrologymeasuring instruments
teravikmikroskoop предпочтительный термин
atomic force microscope предпочтительный термин
AFM
scanning force microscope
SFM
  • mõõtevahend, mida kasutatakse pinna aatomistruktuuri kaardistamiseks, mõõtes jõudu, mis toimib üle pinna liigutatava kompimisosise väga peenele otsale
  • device used to map the atomic structure of a surface by measuring the force acting on the very fine tip of a wire moved over the surface
teravikmikroskoop предпочтительный термин
Примеры
  • Teravikmikroskoopi kasutatakse kompimisosise teraviku ja proovi vaheliste jõudude mõõtmiseks nende vastastikuse eraldamise funktsioonina, mida saab rakendada jõuspektroskoopia tegemiseks ja proovi kombatava pinna mehaaniliste omaduste mõõtmiseks.
atomic force microscope предпочтительный термин
Примеры
  • The atomic force microscope can be used to measure the forces between the probe and the sample as a function of their mutual separation. This can be applied to perform force spectroscopy, to measure the mechanical properties of the sample.
AFM сокращение
scanning force microscope
SFM сокращение

Metroloogia terminibaas

ID 1143103 Последнее изменение 29.01.2026
Веб-страница словаря
Веб-страница словаря
Домен metrologymeasuring procedures
aatomjõumikroskoopia предпочтительный термин
AFM
skanniv jõumikroskoopia
SFM
atomic force microscopy
AFM
scanning force microscope
SFM
  • pinnatopograafia mõõtemeetod, mille puhul pinna kõrgust tajutakse varb-/nõelotsaku ja pinna vahelise mehaanilise tõmbe- või tõukejõu põhjal
  • surface topography measurement method whereby the surface height is sensed from the mechanical force of attraction or repulsion between a probe tip and a surface
aatomjõumikroskoopia предпочтительный термин
Примеры
  • Aatomjõumikroskoopia ja skanniv jõumikroskoopia on kaks meetodit, mida võib liigitada ka skanniva sondi mikroskoopia meetoditeks.
AFM сокращение
skanniv jõumikroskoopia
SFM сокращение
atomic force microscopy
Примеры
  • Atomic force microscopy (AFM) and scanning force microscopy (SFM) are two methods that can also be classified as methods of scanned probe microscopy.
AFM сокращение
scanning force microscope
SFM сокращение

Формы слова данные отсутствуют

Этимология данные отсутствуют

Производные слова данные отсутствуют

Поиск

в терминологической базе IATE

Примеры предложений из текстов интернета

На странице корпусного менеджера SkELL пользователь может познакомиться с контекстами употребления и с распространёнными сочетаниями слова, а также с синонимами и другими близкими по значению словами. Данные выбраны компьютером aвтомaтически и могут содержать ошибки.
Skell logo