en

atomic force microscope

1

Терминологические словари

Metroloogia terminibaas

ID 610976 Последнее изменение 09.05.2025
Веб-страница словаря
Веб-страница словаря
Домен metrologymeasuring instruments
teravikmikroskoop предпочтительный термин
atomic force microscope предпочтительный термин
AFM
SFM
  • mõõtevahend, mida kasutatakse pinna aatomistruktuuri kaardistamiseks, mõõtes jõudu, mis toimib üle pinna liigutatava kompimisosise väga peenele otsale
  • device used to map the atomic structure of a surface by measuring the force acting on the very fine tip of a wire moved over the surface
teravikmikroskoop предпочтительный термин
Примеры
  • Teravikmikroskoopi kasutatakse kompimisosise teraviku ja proovi vaheliste jõudude mõõtmiseks nende vastastikuse eraldamise funktsioonina, mida saab rakendada jõuspektroskoopia tegemiseks ja proovi kombatava pinna mehaaniliste omaduste mõõtmiseks.
atomic force microscope предпочтительный термин
Примеры
  • The atomic force microscope can be used to measure the forces between the probe and the sample as a function of their mutual separation. This can be applied to perform force spectroscopy, to measure the mechanical properties of the sample.
AFM сокращение
SFM сокращение

Формы слова данные отсутствуют

Этимология данные отсутствуют

Производные слова данные отсутствуют

Примеры предложений из текстов интернета

На странице корпусного менеджера SkELL пользователь может познакомиться с контекстами употребления и с распространёнными сочетаниями слова, а также с синонимами и другими близкими по значению словами. Данные выбраны компьютером aвтомaтически и могут содержать ошибки.