et

läbivkiirguse elektronmikroskoop

1

Erialasõnastikud

Metroloogia terminibaas

ID 590388 Viimati muudetud 11.04.2024
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond metroloogiameasuring equipment - control equipmentmõõduvahendid
läbivkiirguse elektronmikroskoop eelistatud
skaneeriv transmissioonelektronmikroskoop
skaneeriv transmissioonmikroskoop
  • mikroskoop, mis võimaldab kujutise saada tänu uuritavat proovi läbivale elektronide voole
  • microscopy technique in which a beam of electrons is transmitted through a specimen to form an image
  • type of transmission electron microscope
läbivkiirguse elektronmikroskoop eelistatud
Näited
  • Läbivkiirguse elektronmikroskoobis fokuseeritakse elektronkiir väikesele täpile (tüüpiline täpi läbimõõt 0,05 nm kuni 0,2 nm), mis seejärel skaneeritakse üle proovi rastervalgustussüsteemis, mis on konstrueeritud nii, et proov valgustatakse igas punktis optilise teljega paralleelse kiirega, mis muudab läbivkiirguse elektronmikroskoobi sobivaks analüütiliste meetodite jaoks, nagu Z-kontrastne rõngakujuline tumeda välja pildistamine ja spektroskoopiline kaardistamine energia dispersiivse röntgenspektroskoopia või elektronide energiakao spektroskoopia abil.
skaneeriv transmissioonelektronmikroskoop
skaneeriv transmissioonmikroskoop
scanning transmission electron microscope
Näited
  • In scanning transmission electron microscope the electron beam is focused to a fine spot (with the typical spot size 0,05 nm – 0,2 nm) which is then scanned over the sample in a raster illumination system constructed so that the sample is illuminated at each point with the beam parallel to the optical axis. The rastering of the beam across the sample makes scanning transmission electron microscope suitable for analytical techniques such as Z-contrast annular dark-field imaging, and spectroscopic mapping by energy dispersive X-ray spectroscopy, or electron energy loss spectroscopy.

Metroloogia terminibaas

ID 574809 Viimati muudetud 16.02.2024
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond metroloogiamõõduvahendid
elektronmikroskoop eelistatud
  • mikroskoop, mis kasutab valgusallikana kiirendatud elektronide kiirt
  • elektronoptiline seade, mis annab väikestest objektidest suurendatud kujutisi elektronide kimbu – elektronsondi abil
  • microscope that uses a beam of accelerated electrons as a source of illumination
elektronmikroskoop eelistatud
Näited
  • Elektronmikroskoobid kasutavad elektronoptikat, mis on analoogne optilise valgusmikroskoobi klaasläätsedega, et juhtida elektronkiirt, fokusseerides kiirt suurendatud kujutiste või elektronide difraktsioonimustrite tekitamiseks.
Hea teada
  • Kuna elektroni lainepikkus võib olla kuni 100 000 korda väiksem kui nähtaval valgusel, on elektronmikroskoopide eraldusvõime umbes 0,1 nm.
electron microscope
Näited
  • They use electron optics that are analogous to the glass lenses of an optical light microscope to control the electron beam, for instance focusing them to produce magnified images or electron diffraction patterns.
Hea teada
  • As the wavelength of an electron can be up to 100 000 times smaller than that of visible light, electron microscopes have a much higher resolution of about 0,1 nm, which compares to about 200 nm for light microscopes.

Sõnavormid puuduvad

Päritolu andmed puuduvad

Sõna seosed puuduvad

Sama sõna

ELi terminibaasis IATE
Otsin lisanäiteid...
Otsin tõlgitud näiteid...