en

atomic force microscope

1

Erialasõnastikud

Metroloogia terminibaas

ID 610976 Viimati muudetud 09.05.2025
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond metroloogiamõõduvahendid
  • mõõtevahend, mida kasutatakse pinna aatomistruktuuri kaardistamiseks, mõõtes jõudu, mis toimib üle pinna liigutatava kompimisosise väga peenele otsale
  • device used to map the atomic structure of a surface by measuring the force acting on the very fine tip of a wire moved over the surface
teravikmikroskoop eelistatud
Näited
  • Teravikmikroskoopi kasutatakse kompimisosise teraviku ja proovi vaheliste jõudude mõõtmiseks nende vastastikuse eraldamise funktsioonina, mida saab rakendada jõuspektroskoopia tegemiseks ja proovi kombatava pinna mehaaniliste omaduste mõõtmiseks.
atomic force microscope eelistatud
Näited
  • The atomic force microscope can be used to measure the forces between the probe and the sample as a function of their mutual separation. This can be applied to perform force spectroscopy, to measure the mechanical properties of the sample.
AFM lühend
SFM lühend

Sõnavormid puuduvad

Päritolu andmed puuduvad

Sõna seosed puuduvad

Lisanäited

Veebilehelt SkELL saad vaadata sõna kasutusnäiteid, naabersõnu ja sarnase tähendusega sõnu. Need on automaatselt valitud ning võivad sisaldada vigu.