probe tip

Erialasõnastikud

ID 630297 Viimati muudetud 19.04.2024

Valdkond metroloogiamõõduvahendid

teravikkatsur

probe tip

mõõtevahendi osis, mis on kasutusel skaneerivates mikroskoopides mõõteobjekti pinna skaneerimiseks ning pindadest ja struktuuridest nanoskaalas piltide tegemiseks

instrument that use in scanning probe microscopes to scan the surface of a sample and make nano-scale images of surfaces and structures

teravikkatsur

Näited

Teravikkatsur on paigaldatud sondkonsooli otsa ja tema otsak võib olla sama terav kui üks aatom, kusjuures mikroskoopias teravikkatsuri otsaku pikkus, laius, kuju, kuvasuhe ja tipu tipu raadius ning nii otsaku kui ka sondeeritava pinna koostis ja materjali omadused mõjutavad otseselt teravikkatsuri eraldusvõimet ja pildikvaliteeti.

probe tip

Näited

The probe tip is mounted on the end of a cantilever and can be as sharp as a single atom. In microscopy, probe tip geometry (length, width, shape, aspect ratio, and tip apex radius) and the composition (material properties) of both the tip and the surface being probed directly affect resolution and imaging quality.

Veebilehelt SkELL saad vaadata sõna kasutusnäiteid, naabersõnu ja sarnase tähendusega sõnu. Need on automaatselt valitud ning võivad sisaldada vigu.