mõõtevahendi osis, mis on kasutusel skaneerivates mikroskoopides mõõteobjekti pinna skaneerimiseks ning pindadest ja struktuuridest nanoskaalas piltide tegemiseks
instrument that use in scanning probe microscopes to scan the surface of a sample and make nano-scale images of surfaces and structures
Teravikkatsur on paigaldatud sondkonsooli otsa ja tema otsak võib olla sama terav kui üks aatom, kusjuures mikroskoopias teravikkatsuri otsaku pikkus, laius, kuju, kuvasuhe ja tipu tipu raadius ning nii otsaku kui ka sondeeritava pinna koostis ja materjali omadused mõjutavad otseselt teravikkatsuri eraldusvõimet ja pildikvaliteeti.
The probe tip is mounted on the end of a cantilever and can be as sharp as a single atom. In microscopy, probe tip geometry (length, width, shape, aspect ratio, and tip apex radius) and the composition (material properties) of both the tip and the surface being probed directly affect resolution and imaging quality.
