et

skaneeriv mikroskoop

1

Erialasõnastikud

Metroloogia terminibaas

ID 590387 Viimati muudetud 11.04.2024
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond metroloogiamõõduvahendid
skaneeriv elektronmikroskoop eelistatud
scanning electron microscope eelistatud
  • mikroskoop, mis loob kujutise uuritavat proovi suure energiaga elektronikiire abil skaneerides
  • type of electron microscope that produces images of a sample by scanning the surface with a focused beam of electrons
skaneeriv elektronmikroskoop eelistatud
Näited
  • Kõige tavalisemas skaneeriva elektronmikroskoobi režiimis tuvastatakse sekundaarse elektronkiire ergastatud aatomite poolt eralduvad sekundaarsed elektronid sekundaarse elektrondetektori abil.
scanning electron microscope eelistatud
Näited
  • In the most common scanning electron microscope mode, secondary electrons emitted by atoms excited by the electron beam are detected using a secondary electron detector.

Sõnavormid puuduvad

Päritolu andmed puuduvad

Sõna seosed puuduvad

Sama sõna

ELi terminibaasis IATE
Otsin lisanäiteid...
Otsin tõlgitud näiteid...