et

skaneeriv elektronmikroskoop

1

Erialasõnastikud

Arheoloogia terminibaas

ID 473301 Viimati muudetud 08.08.2023
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond muud laboriga seotud mõisted
SEM
SEM
  • mikroskoop, mis loob kujutise uuritavat proovi suure energiaga elektronikiire abil skaneerides. Kiirt moodustavad elektronid interakteeruvad pinda moodustavate aatomitega, tekitades signaale, mis sisaldavad teavet pinna kuju, koostise, elektrijuhtivuse ja muude omaduste kohta. Võimaldab kasutada suuri suurendusi ja uurida väga erinevaid materjale
SEM lühend
SEM lühend

Materjalitehnika terminibaas

ID 672955 Viimati muudetud 07.04.2024
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond metallography
scanning electron microscope eelistatud
SEM
сканирующий электронный микроскоп eelistatud
  • elektronmikroskoop, mille korral kujutis saadakse objekti skaneerimisel elektronkiirte abil
  • an electron microscope in which a beam of electrons sweeps over a specimen measuring intensity of secondary electrons generated at the point of impact of the beam on the specimen, and relaying the signal into a cathode display, which is scanned in synchronism with the scanning of the specimen
skaneeriv elektronmikroskoop
Hea teada
  • lühend SEM
scanning electron microscope eelistatud
Hea teada
  • abbreviation SEM
SEM lühend
scanning microscope
сканирующий электронный микроскоп eelistatud

Metroloogia terminibaas

ID 590387 Viimati muudetud 11.04.2024
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond metroloogiamõõduvahendid
skaneeriv elektronmikroskoop eelistatud
scanning electron microscope eelistatud
  • mikroskoop, mis loob kujutise uuritavat proovi suure energiaga elektronikiire abil skaneerides
  • type of electron microscope that produces images of a sample by scanning the surface with a focused beam of electrons
skaneeriv elektronmikroskoop eelistatud
Näited
  • Kõige tavalisemas skaneeriva elektronmikroskoobi režiimis tuvastatakse sekundaarse elektronkiire ergastatud aatomite poolt eralduvad sekundaarsed elektronid sekundaarse elektrondetektori abil.
scanning electron microscope eelistatud
Näited
  • In the most common scanning electron microscope mode, secondary electrons emitted by atoms excited by the electron beam are detected using a secondary electron detector.

Sõnavormid puuduvad

Päritolu andmed puuduvad

Sõna seosed puuduvad

Sama sõna

ELi terminibaasis IATE
Otsin lisanäiteid...
Otsin tõlgitud näiteid...