en

angle-resolved scanning electron microscopy

1

Терминологические словари

Metroloogia terminibaas

ID 1143092 Последнее изменение 29.01.2026
Веб-страница словаря
Веб-страница словаря
Домен metrologymeasuring procedures
nurgalahutusega skanniv elektronmikroskoopia
SEM
angle-resolved scanning electron microscopy
SEM
  • pinnatopograafia mõõtemeetod, mille puhul pinna lokaalsed konarused hinnatakse peegelduse nurkjaotuse või sekundaarse elektronkiirguse intensiivsuse abil ja pinnatopograafia kujutis saadakse nende kohalike pinnakonaruste integreerimise teel
  • surface topography measurement method whereby local gradients of a surface are determined by angular distribution of reflection or secondary electron emission intensity and an areal-topography image is obtained by integration of these local gradients
nurgalahutusega skanniv elektronmikroskoopia
Примеры
  • Nurgalahutusega skanniva elektronmikroskoopia korral kogutakse katoodiluminestsentsi emissioon paraboloidpeeglisse tulevast täiskiirest ja iga saadud pildi punkt vastab ainulaadsele emissiooninurgale.
SEM сокращение
angle-resolved scanning electron microscopy
Примеры
  • In angle-resolved scanning electron microscopy, the cathodoluminescence emission is collected from the full beam incident on a paraboloid mirror, and each point in the resulting image corresponds to a unique emission angle.
SEM сокращение

Формы слова данные отсутствуют

Этимология данные отсутствуют

Производные слова данные отсутствуют

Поиск

в терминологической базе IATE

Примеры предложений из текстов интернета

На странице корпусного менеджера SkELL пользователь может познакомиться с контекстами употребления и с распространёнными сочетаниями слова, а также с синонимами и другими близкими по значению словами. Данные выбраны компьютером aвтомaтически и могут содержать ошибки.
Skell logo