et

SEM

1 lühend

Erialasõnastikud

Arheoloogia terminibaas

ID 473301 Viimati muudetud 08.08.2023
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond muud laboriga seotud mõisted
  • mikroskoop, mis loob kujutise uuritavat proovi suure energiaga elektronikiire abil skaneerides. Kiirt moodustavad elektronid interakteeruvad pinda moodustavate aatomitega, tekitades signaale, mis sisaldavad teavet pinna kuju, koostise, elektrijuhtivuse ja muude omaduste kohta. Võimaldab kasutada suuri suurendusi ja uurida väga erinevaid materjale

Metroloogia terminibaas

ID 1143092 Viimati muudetud 29.01.2026
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond metroloogiameasuring procedures
  • pinnatopograafia mõõtemeetod, mille puhul pinna lokaalsed konarused hinnatakse peegelduse nurkjaotuse või sekundaarse elektronkiirguse intensiivsuse abil ja pinnatopograafia kujutis saadakse nende kohalike pinnakonaruste integreerimise teel
  • surface topography measurement method whereby local gradients of a surface are determined by angular distribution of reflection or secondary electron emission intensity and an areal-topography image is obtained by integration of these local gradients
nurgalahutusega skanniv elektronmikroskoopia
Näited
  • Nurgalahutusega skanniva elektronmikroskoopia korral kogutakse katoodiluminestsentsi emissioon paraboloidpeeglisse tulevast täiskiirest ja iga saadud pildi punkt vastab ainulaadsele emissiooninurgale.
SEM lühend
angle-resolved scanning electron microscopy
Näited
  • In angle-resolved scanning electron microscopy, the cathodoluminescence emission is collected from the full beam incident on a paraboloid mirror, and each point in the resulting image corresponds to a unique emission angle.
SEM lühend

Sõnavormid puuduvad

Päritolu andmed puuduvad

Sõna seosed puuduvad

Otsin lisanäiteid...
Otsin tõlgitud näiteid...