et

skaneeriv tunnelelektronmikroskoop

1

Terminological databases

Metroloogia terminibaas

ID 630092 Last modified 11.04.2024
View dataset
View dataset
Domain metrologymeasuring instruments
  • elektronmikroskoop, mida kasutatakse pindade pildistamiseks aatomitasandil
  • mikroskoop, milles skaneerib objekti pinda üliteravaks (üksikaatomini tipuks) söövitatud metallteravik
  • elektronmikroskoop, mille korral aatomteravik „ujub“ üle skaneeritava pinna
  • microscope for imaging surfaces at the atomic level
  • type of microscope used for imaging surfaces at the atomic level
skaneeriv teravikmikroskoop preferred
Usage examples
  • Skaneeriv teravikmikroskoop tunnetab pinda, kasutades äärmiselt teravat kompavat otsakut, mis suudab eristada 0,01 nm (10 pm) sügavuse eraldusvõimega suurusi, mis on väiksemad kui 0,1 nm, mis tähendab, et üksikuid aatomeid saab rutiinselt kujutada ja nendega manipuleerida.
tunnelmikroskoop variant
scanning tunneling microscope preferred
Usage examples
  • Scanning tunneling microscope senses the surface by using an extremely sharp conducting tip that can distinguish features smaller than 0,1 nm with a 0,01 nm depth resolution. This means that individual atoms can routinely be imaged and manipulated.

Word forms not available

Etymology not available

Related words not available

Search the same word

in the EU's IATE term base
Searching web examples...
Searching translated usage examples...