et

skaneeriv teravikmikroskoop

1

Erialasõnastikud

Metroloogia terminibaas

ID 630092 Viimati muudetud 11.04.2024
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond metroloogiamõõduvahendid
  • elektronmikroskoop, mida kasutatakse pindade pildistamiseks aatomitasandil
  • mikroskoop, milles skaneerib objekti pinda üliteravaks (üksikaatomini tipuks) söövitatud metallteravik
  • elektronmikroskoop, mille korral aatomteravik „ujub“ üle skaneeritava pinna
  • microscope for imaging surfaces at the atomic level
  • type of microscope used for imaging surfaces at the atomic level
skaneeriv teravikmikroskoop eelistatud
Näited
  • Skaneeriv teravikmikroskoop tunnetab pinda, kasutades äärmiselt teravat kompavat otsakut, mis suudab eristada 0,01 nm (10 pm) sügavuse eraldusvõimega suurusi, mis on väiksemad kui 0,1 nm, mis tähendab, et üksikuid aatomeid saab rutiinselt kujutada ja nendega manipuleerida.
tunnelmikroskoop variant
scanning tunneling microscope eelistatud
Näited
  • Scanning tunneling microscope senses the surface by using an extremely sharp conducting tip that can distinguish features smaller than 0,1 nm with a 0,01 nm depth resolution. This means that individual atoms can routinely be imaged and manipulated.

Sõnavormid puuduvad

Päritolu andmed puuduvad

Sõna seosed puuduvad

Otsin lisanäiteid...
Otsin tõlgitud näiteid...