HI
technique that enables the measurement of static and dynamic displacements of objects with optically rough surfaces at optical interferometric precision (i.e., to fractions of a wavelength of light), mõõteprintsiip, mis võimaldab mõõta optiliselt kareda pinnaga objektide staatilisi ja dünaamilisi nihkeid optilise interferentsi määramatusega, st valguse lainepikkuse murdosa määramatusega