et

aatomjõumikroskoopia

1 nimisõna

Erialasõnastikud

Biokeemiasõnastik

ID 457872 Viimati muudetud 10.08.2023
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu

Materjalitehnika terminibaas

ID 671969 Viimati muudetud 12.06.2026
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond metallography
  • pinna skaneerimismeetod, mispõhineb väga suure lahutusvõimega skaneerival mikroskoobil, mis pinda skaneerides terava otsakuga annab pinna kolmemõõtmelise elektroonse kujutise (vt teravikmikroskoopia)
  • a mechanical profiling method that generates three-dimentional maps of surfaces by scanning an atomically sharp probe attached to a cantilever over a surface (see: scanning probe microscopy)
aatomjõumikroskoopia
atomic force microscopy eelistatud
AFM lühend

Metroloogia terminibaas

ID 1143103 Viimati muudetud 29.01.2026
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond metroloogiameasuring procedures
  • pinnatopograafia mõõtemeetod, mille puhul pinna kõrgust tajutakse varb-/nõelotsaku ja pinna vahelise mehaanilise tõmbe- või tõukejõu põhjal
  • surface topography measurement method whereby the surface height is sensed from the mechanical force of attraction or repulsion between a probe tip and a surface
aatomjõumikroskoopia eelistatud
Näited
  • Aatomjõumikroskoopia ja skanniv jõumikroskoopia on kaks meetodit, mida võib liigitada ka skanniva sondi mikroskoopia meetoditeks.
AFM lühend
SFM lühend
atomic force microscopy
Näited
  • Atomic force microscopy (AFM) and scanning force microscopy (SFM) are two methods that can also be classified as methods of scanned probe microscopy.
AFM lühend
scanning force microscope
SFM lühend

Sõnavormid puuduvad

Päritolu andmed puuduvad

Sõna seosed puuduvad

Otsin lisanäiteid...
Otsin tõlgitud näiteid...