en

STM

2 lühend

Erialasõnastikud

Materjalitehnika terminibaas

ID 672573 Viimati muudetud 13.08.2025
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond metallographylaboritehnika
  • elektronmikroskoop, mille korral aatomteravik „ujub“ üle skaneeritava pinna (vt elektronmikroskoop, aatomteravik)
    Hea teada
    • Aatomteraviku mõõtmed mõne aatomläbimõõdu suurusjärgus, horisontaalsuunas eraldusvõime ca 0,2 nm, vertikaalsuunas eraldusvõime ca 0,01 nm.
  • microscope which uses a probe with an "atomic micro-tip" floated, using superconducting levitation, over the surface being scanned (see: electron microscope, atomic microtip)
    Hea teada
    • The top/surface is of order of atomic diameters so that the electron current obtained is through quantum mechanical tunneling; a horizontal resolution of ca 0.2 nm and a vertical resulution of ca 0.01 nm is obtained.
skaneeriv tunnelmikroskoop eelistatud
skaneeriv tunnel-elektronmikroskoop
tunnelmikroskoop
STM lühend
scanning tunneling electron microscope
STM lühend

Materjalitehnika terminibaas

ID 676024 Viimati muudetud 06.01.2025
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond metallography
  • juhtivate pindade uurimistehnika, mis annab elektroonse kujutise resolutsiooniga alla 0,01 nm (vt teravikmikroskoopia)
  • a surface analysis technique for conducting surfaces that provides an image of the physical structure of the surface with resolution less than 0.01 nm (see: scanning probe microscopy)
tunnelmikroskoopia eelistatud
scanning tunneling microscopy eelistatud
STM lühend

Metroloogia terminibaas

ID 1143102 Viimati muudetud 29.01.2026
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond metroloogiameasuring procedures
  • pinnatopograafia mõõtemeetod, mille põhjal pinna kõrguse mõõtmine põhineb elektrit juhtiva pinna ja sellele väga lähedal asuva juhtiva teravikotsaku vahel tekkiva elektrilise tunnelivoolu kõrgusest tulenevatest kõikumistest, mille vahel hoitakse konstantset pinget
  • surface topography measurement method werebly the determination of surface height arises from the height-related variations in the electrical tunnelling current produced between a conducting surface and a conducting tip placed very close to it, with a constant voltage maintained between them
skanniv tunnelmikroskoopia eelistatud
Näited
  • Skanniv tunnelmikroskoopia kui mõõtemeetod võimaldab skannida viies väga terava metalltraadi otsa üle mõõtepinna pinnale väga lähedale ja rakendades traadi otsale või mõõdetavale pinnale elektrilist pinget, mille põhjal saab pinda kujutada äärmiselt väikeses skaalaulatuses kuni üksikute aatomite lahutamiseni.
STM lühend
tunnelmikroskoopia variant
scanning tunneling microscopy
Näited
  • Scanning tunneling microscopy as a measurement method allows scanning by moving the tip of a very sharp metal wire very close to the surface of the measurement surface and applying an electrical voltage to the tip of the wire or the surface being measured, which allows the surface to be imaged on an extremely small scale, down to the resolution of individual atoms.
STM lühend

Sõnavormid puuduvad

Päritolu andmed puuduvad

Sõna seosed puuduvad

Lisanäited

Veebilehelt SkELL saad vaadata sõna kasutusnäiteid, naabersõnu ja sarnase tähendusega sõnu. Need on automaatselt valitud ning võivad sisaldada vigu.