et

skanniv tunnelmikroskoopia

1

Terminological databases

Metroloogia terminibaas

ID 1143102 Last modified 29.01.2026
View dataset
View dataset
Domain metrologymeasuring procedures
  • pinnatopograafia mõõtemeetod, mille põhjal pinna kõrguse mõõtmine põhineb elektrit juhtiva pinna ja sellele väga lähedal asuva juhtiva teravikotsaku vahel tekkiva elektrilise tunnelivoolu kõrgusest tulenevatest kõikumistest, mille vahel hoitakse konstantset pinget
  • surface topography measurement method werebly the determination of surface height arises from the height-related variations in the electrical tunnelling current produced between a conducting surface and a conducting tip placed very close to it, with a constant voltage maintained between them
skanniv tunnelmikroskoopia preferred
Usage examples
  • Skanniv tunnelmikroskoopia kui mõõtemeetod võimaldab skannida viies väga terava metalltraadi otsa üle mõõtepinna pinnale väga lähedale ja rakendades traadi otsale või mõõdetavale pinnale elektrilist pinget, mille põhjal saab pinda kujutada äärmiselt väikeses skaalaulatuses kuni üksikute aatomite lahutamiseni.
STM abbreviation
tunnelmikroskoopia variant
scanning tunneling microscopy
Usage examples
  • Scanning tunneling microscopy as a measurement method allows scanning by moving the tip of a very sharp metal wire very close to the surface of the measurement surface and applying an electrical voltage to the tip of the wire or the surface being measured, which allows the surface to be imaged on an extremely small scale, down to the resolution of individual atoms.
STM abbreviation

Word forms not available

Etymology not available

Related words not available

Search the same word

in the EU's IATE term base
Searching web examples...
Searching translated usage examples...