et

SFM

1 сокращение

Терминологические словари

Metroloogia terminibaas

ID 1143103 Последнее изменение 29.01.2026
Веб-страница словаря
Веб-страница словаря
Домен metrologymeasuring procedures
aatomjõumikroskoopia предпочтительный термин
AFM
SFM
  • pinnatopograafia mõõtemeetod, mille puhul pinna kõrgust tajutakse varb-/nõelotsaku ja pinna vahelise mehaanilise tõmbe- või tõukejõu põhjal
  • surface topography measurement method whereby the surface height is sensed from the mechanical force of attraction or repulsion between a probe tip and a surface
aatomjõumikroskoopia предпочтительный термин
Примеры
  • Aatomjõumikroskoopia ja skanniv jõumikroskoopia on kaks meetodit, mida võib liigitada ka skanniva sondi mikroskoopia meetoditeks.
AFM сокращение
SFM сокращение
atomic force microscopy
Примеры
  • Atomic force microscopy (AFM) and scanning force microscopy (SFM) are two methods that can also be classified as methods of scanned probe microscopy.
AFM сокращение
scanning force microscope
SFM сокращение

Формы слова данные отсутствуют

Этимология данные отсутствуют

Производные слова данные отсутствуют

Идёт поиск предложений...
Идёт поиск примеров...