technique that enables the measurement of static and dynamic displacements of objects with optically rough surfaces at optical interferometric precision (i.e., to fractions of a wavelength of light), mõõteprintsiip, mis võimaldab mõõta optiliselt kareda pinnaga objektide staatilisi ja dünaamilisi nihkeid optilise interferentsi määramatusega, st valguse lainepikkuse murdosa määramatusega
tervitussõna, mida kasutatakse kohtumisel või kellegi poole pöördumisel
technique that enables the measurement of static and dynamic displacements of objects with optically rough surfaces at optical interferometric precision (i.e., to fractions of a wavelength of light), mõõteprintsiip, mis võimaldab mõõta optiliselt kareda pinnaga objektide staatilisi ja dünaamilisi nihkeid optilise interferentsi määramatusega, st valguse lainepikkuse murdosa määramatusega
HI . Metroloogia terminibaas. Estonian Language Institute, Sõnaveeb 2026. https://sonaveeb.ee/search/unif//mea/HI/1/est (08.11.2026)