aatomjõumikroskoopia, skanniv jõumikroskoopia, SFM
surface topography measurement method whereby the surface height is sensed from the mechanical force of attraction or repulsion between a probe tip and a surface, pinnatopograafia mõõtemeetod, mille puhul pinna kõrgust tajutakse varb-/nõelotsaku ja pinna vahelise mehaanilise tõmbe- või tõukejõu põhjal
