et

sekundaarioonmass-spektromeetria

1

Erialasõnastikud

Materjalitehnika terminibaas

ID 1185896 Viimati muudetud 14.07.2026
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond materials science
  • elementide keemilise analüüsi tehnika, mille korral primaarne ioonide voog tekitab sekundaarseid ioone, milliseid analüüsitakse massispektromeetri abil (vt massispektromeeter)
  • technique for elemental chemical analysis wherein the primary ion beam produces secondary ions that are analyzed by mass spectrometer (see: mass spectrometer)
secondary ion mass spectrometry eelistatud
SIMS

Sõnavormid puuduvad

Päritolu andmed puuduvad

Sõna seosed puuduvad

Otsin lisanäiteid...
Otsin tõlgitud näiteid...