mikroskoop elementide lateraalse jaotuse mõõtmiseks materjali pinnal, registreerides Augeri elektronide intensiivsust vs elektronkiire positsioonile
an analytic device that measures the lateral distribution elements on the surface of a material by recording the intensity of their Auger electrons vs position of the electron beam
На странице корпусного менеджера SkELL пользователь может познакомиться с контекстами употребления и с распространёнными сочетаниями слова, а также с синонимами и другими близкими по значению словами. Данные выбраны компьютером aвтомaтически и могут содержать ошибки.
