technique for investigation various crystal defects in nearly perfect crystals with a low defect density by studing the intensity distribution in x-ray diffusion spots (see; x-ray microscope), perfektsetele ligilähedaste (väikese defektide tihedusega) erinevate kristallide defektide uurimine läbi röntegendifraktsiooni jaotuse intensiivsuse (vt röntgenmikroskoop)