et

orientatsioonkujutismikroskoopia

1

Erialasõnastikud

Materjalitehnika terminibaas

ID 1185251 Viimati muudetud 19.06.2026
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond materials sciencemetallography
  • EBSP-l põhinev skaneeriv elektronmikroskoopia polükristallis erinevate terade orientatsiooni määramiseks (vt skaneeriv elektronmikroskoop)
  • SEM technique using by EBSP for determining and displaying orientations of different grains in polycrystals (see: scanning electron microscope)

Sõnavormid puuduvad

Päritolu andmed puuduvad

Sõna seosed puuduvad

Otsin lisanäiteid...
Otsin tõlgitud näiteid...