magnetic force microscope
device analogous to STM and AFM; it measures magnetic stray fields on the surface of a magnetic specimen (see: scanning tunneling microscope, atomic force microscope), STM-le ja AFM-le analoogne mikroskoop magnetuitväljade mõõtmiseks magnetkatsekeha pinnal (vt skaneeriv tunnelmikroskoop, aatomjõumikroskoop)
