component of the instrument that moves the probing system or the surface being measured along the reference guide on the x-axis and returns the horizontal position of the measured point in terms of the lateral x-coordinate of the profile, component of a instrument that the probing system or the surface being measured along the reference guide on the x-axis and returns the horisontal position of the measured point in terms of the lateral x-coordinate, mõõtevahendi osis, mis liigutab kompamissüsteemi või mõõdetavat pinda piki tugiuhikut x-teljel ja tuleb tagasi mõõdetud punkti horisontaalsesse asukohta profiili külgmise x-koordinaadi alusel, mõõtevahendi komponent, mis liigutab kompamissüsteemi või mõõdetavat pinda piki x-teljel asuvat tugijuhikut ja edastab mõõdetud punkti horisontaalse asukoha x-koordinaadi