to capture data across erratic or inclined sample surfaces while maintaining sample focus, the vertical position of the microscope stage is modified while using the Raman imaging technique known as terrain mapping, reljeefi jäädvustamine ebakorrapärastel või kaldu mõõtepindadel, säilitades samal ajal mõõtepinna fookuses ja muutes mikroskoobi etapi vertikaalset asendit ning kasutades Ramani pildistamistehnikat