Kui soovid oma küsimusele vastust, jäta meile oma e-posti aadress.
Aitäh, oleme tagasiside kätte saanud.
closeness of agreement between successive measurements of the same surface topography under the same conditions of measurement, sama pinna topograafia järjestikustel mõõtmistel saadud mõõdiste kokkulangevus samades mõõtetingimustes
