surface topography measurement method whereby a light image with a known structure or pattern is projected on a surface and the pattern of reflected light togther with knowledge of the incident structured light allows one to determine the surface topography, pinnatopograafia mõõtemeetod, mille puhul pinnale projitseeritakse teadaoleva struktuuri või mustriga valguspilt ja seejärel peegeldunud valguse muster koos langeva struktureeritud valguse tunnustega võimaldab kindlaks määrata pinna topograafiat
