specialised piece of electronic test equipment used to measure and analyze the characteristics of discrete semiconductor devices such as diodes, transistors, and thyristors, spetsialiaalne elektrooniline mõõtevahend, mis on kasutusel diskreetsete pooljuhtseadiste, nagu dioodid, transistorid ja türistorid, omadusi iseloomustavate suuruste mõõtmiseks ja analüüsimiseks