In the most common scanning electron microscope mode, secondary electrons emitted by atoms excited by the electron beam are detected using a secondary electron detector.
На странице корпусного менеджера SkELL пользователь может познакомиться с контекстами употребления и с распространёнными сочетаниями слова, а также с синонимами и другими близкими по значению словами. Данные выбраны компьютером aвтомaтически и могут содержать ошибки.
