en

scanning electron microscope

1

Erialasõnastikud

Metroloogia terminibaas

ID 590387 Viimati muudetud 11.04.2024
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond metroloogiamõõduvahendid
skaneeriv elektronmikroskoop eelistatud
scanning electron microscope eelistatud
  • mikroskoop, mis loob kujutise uuritavat proovi suure energiaga elektronikiire abil skaneerides
  • type of electron microscope that produces images of a sample by scanning the surface with a focused beam of electrons
skaneeriv elektronmikroskoop eelistatud
Näited
  • Kõige tavalisemas skaneeriva elektronmikroskoobi režiimis tuvastatakse sekundaarse elektronkiire ergastatud aatomite poolt eralduvad sekundaarsed elektronid sekundaarse elektrondetektori abil.
scanning electron microscope eelistatud
Näited
  • In the most common scanning electron microscope mode, secondary electrons emitted by atoms excited by the electron beam are detected using a secondary electron detector.

Sõnavormid puuduvad

Päritolu andmed puuduvad

Sõna seosed puuduvad

Sama sõna

ELi terminibaasis IATE

Lisanäited

Veebilehelt SkELL saad vaadata sõna kasutusnäiteid, naabersõnu ja sarnase tähendusega sõnu. Need on automaatselt valitud ning võivad sisaldada vigu.
Skell logo