Tegelik elektromagnetiline profiil saadakse kombitavalt mõõteobjekti pinnalt koherents-skanniva mikroskoobi, optilise puuteotsikuga pinda kompiva mõõtevahendi või skanniva ühisfookuselise mikroskoobi abil.
На странице корпусного менеджера SkELL пользователь может познакомиться с контекстами употребления и с распространёнными сочетаниями слова, а также с синонимами и другими близкими по значению словами. Данные выбраны компьютером aвтомaтически и могут содержать ошибки.
