Pinna tekstuuri platoo ruutkeskmine hälve, mida 3D-s tavaliselt nimetatakse Spq või 2D-s Ppq ja Rpq, võimaldab mõõta pinna kõrguste standardhälvet tasalaadsel pinnal. Tasalihvitud pindadel võimaldab see parameeter stabiilse amplituudi mõõtmise, mida ei mõjuta oluliselt kõrvalekalded, nagu kriimustused, saastumine või mõõtmismüra. Platoo ruutkeskmist hälvet saab seega mõõta mikromeetrites, kui juhuslikku protsessi, mis genereerib pinna platookomponenti.
Plateau root mean square deviation of surface texture, commonly referred to as Spq in 3D or Ppq and Rpq in 2D, measures the standard deviation of surface heights across a plateau-like surface. In plateau-honed surfaces this parameter provides a stable measure of amplitude, which is not significantly influenced by outliers like scratches, contamination, or measurement noise. The plateau root mean square deviation can thus be interpreted in micrometers, of the random process that generated the plateau component of the surface.
