FV-meetod
measurement method wherebly the sharpness of a series of surface images that is acquired during an axial scan in an optical instrument is used to measure the surface topography, mõõtemeetod, mille puhul optilise mõõtevahendiga telgskannimise käigus tekitatud pinnakujutistele teravustamist kasutatakse pinna topograafia mõõtmiseks
