Include your e-mail if you'd like us to get back to you.
We've received your feedback, thank you!
ellipsometry is an optical technique for investigating the dielectric properties (complex refractive index or dielectric function) of thin films, optiline meetod õhukeste kilede dielektrilisi omadusi iseloomustavate suuruste (kompleksne murdumistegur või dielektriline läbitavus) mõõtmiseks
ellipsomeetria . Metroloogia terminibaas. Estonian Language Institute, Sõnaveeb 2026. https://sonaveeb.ee/search/unif//mea/ellipsomeetria/1/est (12.07.2026)
