measuring instrument for analyzing the structure of a material from the scattering pattern produced when a beam of radiation or particles (such as X-rays or neutrons) interacts with it, mõõtevahend hajumismustri abil materjali struktuuri analüüsimiseks, mis tekib siis, kui valguskiir või osakesed (näiteks röntgenikiired või neutronid) materjalilt peegelduvad
