W tunnussuurus viitab pinna metroloogias tavaliselt lainelisuse parameetrite, mis on kasutusel pinna tekstuuri hindamiseks pärast pinna kareduse (kõrgsageduslike) ja pinnakuju (madalsageduslike) hälvete väljafiltreerimist ning mis esindab pinna "lainelisust", mis sageli vastab perioodilistele või ebakorrapärastele pinnaomadustele, mis on põhjustatud vibratsioonist, materjali painutamisest või kuumtöötlusest.
W-parameter usually refers to waviness parameters in surface metrology, which are used to evaluate surface texture after filtering out surface roughness (high-frequency) and primary form (low-frequency) errors and represent the "waviness" of a surface, often corresponding to periodic or irregular surface features caused by vibrations, material bending, or heat treatment.
