en

TEF pattern

1

Terminological databases

Metroloogia terminibaas

ID 574465 Last modified 28.05.2025
View dataset
View dataset
Domain Standardisation - Metrology
  • enam kui ühe teoreetiliselt täpse elemendi kogum, millele kohalduvad eeliseta suuna- ja asendipiirangud või suunapiirangud, mille alusel määratletakse struktuuri karakteristik
  • combination of more than one TEF having, without priority between them, constraints of orientation and location, or constraints orientation, used to establish the pattern characteritic
teoreetiliselt täpsete elementide struktuur preferred
Usage examples
  • Teoreetiliselt täpsete elementide struktuur koosneb mitmest teoreetiliselt täpsest elemendist, millel võivad olla erinevad geomeetrilised nimiomadused ja omavahelised piirangud seoses elementide suhtelise asendi ja/või suunaga.
Good to know
  • Teoreetiliselt täpsete elementide struktuuri saab luua väliste piiranguteta või baassüsteemist tuleneva suunapiirangu ja/või asendipiirangu abil.
TEF-struktuur
theoretical exact feature pattern
Usage examples
  • A theoretical exact feature pattern is composed of several theoretical exact features which can have different nominal geometries and constrained between them, with respect to their relative location and/or orientation.
Good to know
  • A theoretical exact feature pattern can be established without external constraint or with orientation constraint and/or location constraint from a datum system.
TEF pattern

Word forms not available

Etymology not available

Related words not available

Search the same word

in the EU's IATE term base

Web examples

Online Language Learning Tool SkELL allows users to search for phrases in sentences, collocates and similar words. These examples have been automatically selected and may contain errors.