Если вы хотите получить ответ по электронной почте, пожалуйста, оставьте свой адрес.
Спасибо, мы получили ваш отзыв.
two-beam interferometer used in microscopy and surface contour measurements or topography, kahekiire interfererntsimõõtur, mida kasutatakse mikroskoopias ja pinnakontuuri mõõtmisel või topograafias
