Kui soovid oma küsimusele vastust, jäta meile oma e-posti aadress.
Aitäh, oleme tagasiside kätte saanud.
two-beam interferometer used in microscopy and surface contour measurements or topography, kahekiire interfererntsimõõtur, mida kasutatakse mikroskoopias ja pinnakontuuri mõõtmisel või topograafias
