spatial period of a sinusoidal profile at which the height response of the instrument transfer function falls to 50 %, siiinuselise profiili ruumiline periood, mille puhul mõõtevahendi ülekandeseose kõrguskarakteristik langeb 50 %-ni

spatial period of a sinusoidal profile at which the height response of the instrument transfer function falls to 50 %, siiinuselise profiili ruumiline periood, mille puhul mõõtevahendi ülekandeseose kõrguskarakteristik langeb 50 %-ni