spatial period of a sinusoidal profile at which the height response of the instrument transfer function falls to 50 %, sinusoidaalse profiili ruumiline periood, mille puhul mõõtevahendi ülekandeseose kõrgussõltuvus langeb 50 protsendini

spatial period of a sinusoidal profile at which the height response of the instrument transfer function falls to 50 %, sinusoidaalse profiili ruumiline periood, mille puhul mõõtevahendi ülekandeseose kõrgussõltuvus langeb 50 protsendini