madala energiatasemega elektronkiirt proovi pommitamiseks kasutav tehnika, mis iseloomustab proovi pinnaomadusi elektronide peegeldumiskadude põhjal
any technique in which a specimen is bombarded with a focused low energy (E0<10 eV) electron beam and the energy distribution of the reflected electrons is measured.
На странице корпусного менеджера SkELL пользователь может познакомиться с контекстами употребления и с распространёнными сочетаниями слова, а также с синонимами и другими близкими по значению словами. Данные выбраны компьютером aвтомaтически и могут содержать ошибки.
